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标题: 关于少子寿命 [打印本页]

作者: chengxinshijin 时间: 2011-7-21 22:41
标题: 关于少子寿命
各位，我这边用的是SEMILAB的少子寿命测试仪，想要测试PECVD镀氮化硅后的少子寿命，怎么测不出来呢？
还有，丝网印刷之后的少子寿命怎么测？
烧结之后的少子寿命怎么测？
请高人给予指点，谢谢！

作者: wangyongjie 时间: 2011-7-23 19:49
对氮化硅被测量的地方先打磨一下试试看

作者: long865414 时间: 2011-8-20 21:42
打磨一下再测

作者: zhaoff2005 时间: 2011-8-26 13:07
直接就可以测，没有打磨之说。

作者: chengxinshijin 时间: 2011-8-27 01:07
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我也觉得不靠谱，但是直接测是测不出来的。
我用的是samilab的仪器

作者: zhaoff2005 时间: 2011-8-27 07:24
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可以测。
我用的也是同家厂商的设备。型号是WT-1000和WT-1200

作者: chengxinshijin 时间: 2011-8-27 23:35
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那我就再试试

作者: zhaoff2005 时间: 2011-8-28 07:13
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少子寿命测试仪要能正确使用，有时候是使用不当造成的。

作者: wokaoman 时间: 2012-11-4 14:14
你放片子时是不是压到测试台的那个孔了？那样就测不出来

作者: shentimmy 时间: 2014-7-29 15:10
好东西一定要顶

作者: zhaofei0415 时间: 2016-12-5 09:30
硅片半导体有少子寿命可测，但是氮化硅本身属绝缘体，不存在少子寿命的，镀膜以后再测少子寿命测得是氮化硅而不是硅片，测不出应该是正常的。如果要测最少也要把膜腐蚀以后再测吧。以上是本人愚见供参考。

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